1.熟練操作FIB（聚焦離子束顯微鏡）、CSAM（超聲掃描顯微技術(shù)）、SEM（掃描電子顯微鏡）、X-Ray(X射線檢測儀)等失效分析設(shè)備，能對分析樣品表面形貌進(jìn)行拍照及成分分析、觀察器件內(nèi)部電氣互聯(lián)結(jié)構(gòu)、對半導(dǎo)體芯片進(jìn)行局部剖切面分析以及電路修補(bǔ)等；
2.會(huì)染結(jié)、研磨，使用laser（鐳射）開蓋機(jī)進(jìn)行器件局部開封、芯片樣品制備、處理和標(biāo)記工作，并記錄分析數(shù)據(jù)和結(jié)果，出具失效分析測試報(bào)告；
3.進(jìn)行實(shí)驗(yàn)設(shè)備維護(hù)和保養(yǎng)，確保設(shè)備運(yùn)行和測試的準(zhǔn)確性和可靠性；
4.負(fù)責(zé)實(shí)驗(yàn)室日常管理和衛(wèi)生整潔，并按照實(shí)驗(yàn)室安全規(guī)范操作。

1、擁護(hù)黨的領(lǐng)導(dǎo)，熱愛教育事業(yè)，遵紀(jì)守法，具有良好的思想政治素質(zhì)和職業(yè)道德；
2、適應(yīng)崗位要求的身體條件，身心健康；
3、具有5年及以上相關(guān)工作經(jīng)驗(yàn)，具備報(bào)考崗位要求的資格條件；
4、具有本科及以上學(xué)歷，以及相應(yīng)的學(xué)位，年齡不超過40周歲（1983年1月1日以后出生）。

（一）報(bào)名方式及時(shí)間
1、網(wǎng)上報(bào)名，詳見“報(bào)名注意事項(xiàng)及資格審查”；
2、報(bào)名起止時(shí)間：自公告之日起至2023年11月23日下午17：00止。
（二）報(bào)名注意事項(xiàng)及資格審查
1、報(bào)名時(shí)須提交下列材料：
（1）應(yīng)聘者應(yīng)填寫《無錫職業(yè)技術(shù)學(xué)院招聘勞務(wù)派遣人員報(bào)名表》（見附件2）。
（2）應(yīng)聘者應(yīng)提供本科及以上學(xué)歷學(xué)位證書、從事相關(guān)工作的證明材料（社保繳費(fèi)證明或原單位開具的工作證明）、市廳級及以上獲獎(jiǎng)證書及其它相關(guān)證書的掃描件，以附件形式發(fā)送至郵箱：wxitrsc@163.com，附件總大小不超過4M。若應(yīng)聘人員為國（境）外留學(xué)人員，須提供經(jīng)教育部留學(xué)服務(wù)中心認(rèn)證的《國外學(xué)歷學(xué)位認(rèn)證書》。在郵件主題欄請務(wù)必注明“姓名+應(yīng)聘崗位編號(hào)+崗位名稱+高校人才網(wǎng)”。
（3）報(bào)名表請不要和附件材料一起打包，報(bào)名表請用Word格式。請嚴(yán)格按照要求發(fā)送郵件，不按要求者不予初審。
（4）學(xué)院將對照報(bào)名條件，對應(yīng)聘人員進(jìn)行初審。
2、凡有弄虛作假者，一經(jīng)查實(shí)，即取消考試和聘用資格。